東莞市萬(wàn)洋環(huán)境科技有限公司
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概述
LT100-3覆層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)必備的儀器。滿足JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x。
主要功能
● 可使用各種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、N400等)進(jìn)行測(cè)量；
● 三種校準(zhǔn)方法：一點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、基本校準(zhǔn)；
● 顯示分辨率：0.1μm (100um以下0.1um,100um以上1um)；
● 最小測(cè)量面積：最小測(cè)量面積：10*8mm；
● 最小曲率：凸5mm，凹25mm；
● 設(shè)有四個(gè)統(tǒng)計(jì)功能：最大值（MAX）、最小值（MIN）、平均值（MEA）、測(cè)量次數(shù)（No）
● 設(shè)五個(gè)統(tǒng)計(jì)量，存儲(chǔ)800個(gè)數(shù)據(jù)。
技術(shù)指標(biāo)
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項(xiàng)目 |
LT100-3 |
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使用環(huán)境溫度 |
0～40℃ |
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電源 |
5V電池 |
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外型尺寸 |
150×80×30mm |
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重量 |
300g |
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測(cè)量范圍 |
F1、N1、F1/90 |
F1、N1,0-1500μm。F1/90,0-1500um |
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F400、N400 |
0-400um |
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F3/N3 |
0-3000um |
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F10 |
0-10000um |
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測(cè)量誤差 |
F1、N1、F1/90 |
（2%H+1）二點(diǎn)校準(zhǔn)精度1％ |
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F400、N400 |
（2%H+0.7）二點(diǎn)校準(zhǔn)精度1％ |
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F10 |
（2%H+10）二點(diǎn)校準(zhǔn)精度1％ |
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標(biāo)準(zhǔn)配置
1、主機(jī) 1臺(tái)
2、探頭（F1或N1） 1支
3、基體 1塊
4、標(biāo)準(zhǔn)片 5片
5、5V堿性電池 2節(jié)
6、使用說明書 1本
可選配
1、其他型號(hào)探頭 選配
2、打印機(jī) 1臺(tái)
3、通訊電纜 1條
4、軟件光碟 1張
探頭參數(shù)
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探頭 |
F400 |
F1 |
F1/90 |
F10 |
N400 |
N1 |
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測(cè)量原理 |
磁性 |
渦流 |
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測(cè)量范圍（μm） |
0～400 |
0～1500 |
0～1500 |
0～10mm |
0～400 |
0～1500 |
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測(cè)量精度μm |
一點(diǎn)校準(zhǔn) |
±（1～3％H+0.7） |
±（3％H+1） |
±（3％H+10） |
±（3％H+1） |
±（3％H+1.5） |
||||
|
二點(diǎn)校準(zhǔn) |
±（1～3％H+0.7） |
±（1～3％H+1） |
±（1～3％H+10） |
±（1～3％H+1） |
±（1～3％H+1.5） |
|||||
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低限分辨率 |
0.1 |
0.1 |
1 |
0.1 |
0.1 |
|||||
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最小曲率半徑(mm) |
(凸)1 |
1.5 |
平直 |
10 |
1.5 |
3 |
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最小面積直徑(mm) |
￠3 |
￠7 |
￠40 |
￠4 |
￠5 |
|||||
|
基本臨界厚度(mm) |
0.2 |
0.5 |
2 |
0.3 |
0.3 |
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探頭選擇參考
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基體與覆蓋層 |
有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 |
非磁性的有色金屬覆蓋層 |
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覆蓋層厚度 |
覆蓋層厚度 |
覆蓋層厚度 |
覆蓋層厚度超過100μm |
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磁性金屬 |
被測(cè)面積的直徑 |
F400 型測(cè)頭 0～400μm |
F1 型測(cè)頭 0～1500μm |
F400 型測(cè)頭
0～400μm 0～1500μm |
F1 型測(cè)頭 0～1500μm |
|
被測(cè)面積的直徑 |
F400 型測(cè)頭 0～400μm |
F400 型測(cè)頭 0～400μm |
F400 型測(cè)頭 0～400μm |
F400 型測(cè)頭 0～400μm |
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有色金屬 |
被測(cè)面積的直徑 |
N1 型測(cè)頭 0～1500μm |
僅用于銅上鍍鉻N1 型測(cè)頭 0～40μm |
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非金屬基體 |
被測(cè)面積的直徑 |
- |
- |
CN02 型測(cè)頭10～200μm |
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